超聲波試塊,超聲波試塊,

CSK-IA試塊是我國承壓設(shè)備無損檢測標準NB/T47013中規(guī)定的標準試塊，其結(jié)構(gòu)尺寸如圖所示。

使用說明及測試方法

1.水平線性（時基線性）的檢驗

水平線性又稱時基線性，或掃描線性。是指輸入到超聲檢測儀中的不同回波的時間間隔與超聲檢測儀顯示屏時基線上回波的間隔成正比關(guān)系的程度。水平線性影響缺陷位置確定的準確度。水平線性的測試可利用任何表面光滑、厚度適當，并具有兩個相互平行的大平面的試塊，用縱波直探頭獲得多次回波，并將規(guī)定次數(shù)的兩個回波調(diào)整到與兩端的規(guī)定刻度線對齊，之后，觀察其他的反射回波位置與水平刻度線相重合的情況。其測試步驟如下：

（1）將直探頭置于CSK-ⅠA試塊上，對準25mm厚的大平底面，如圖a所示

（2）調(diào)整微調(diào)、水平或脈沖移位等旋鈕，使示波屏上出現(xiàn)五次底波B1到B5，且使B1對準2.0，B5對準10.0，如圖b所示

（3）觀察和記錄B2、B3、B4與水平刻度值4.0、6.0、8.0的偏差值a2、a3、a4。

（4）計算水平誤差：公式

式中，amax——a2，a3，a4中zui大者

      b——示波屏水平滿刻度值

2.縱波探測范圍和掃描速度的調(diào)整

在利用縱波探傷時，可以利用試塊的已知厚度來調(diào)整探測范圍和掃描速度，此過程我往往和檢驗時基線性同步進行。當探測范圍在250mm以內(nèi)時，可將探頭置于25mm厚的大平底上，使四次底部回波位于刻度四，十次底部回撥位于刻度十，則刻度十就代表實際探測聲程為250mm。當探測聲程范圍大于250mm時，可將探頭置于如圖的B或C處，使各次底波位于相應的刻度處，此時起始零點亦同時得到修正。

3.橫波探測范圍和掃描速度的調(diào)整

由于縱波的聲程91mm相當于橫波聲程50mm，因此可以利用試塊上91mm來調(diào)整橫波的檢測范圍和掃描速度。例如橫波1:1，先用直探頭對準91底面，是B1、B2分別對準50、100，然后換上橫波探頭并對準R100圓弧面，找到zui高回波，并調(diào)至100即可。

4.測定儀器和直探頭的遠場分辨力

（1）抑制旋鈕調(diào)至“0”，探頭置于如圖所示位置，左右移動探頭，使顯示屏上出現(xiàn)85、91、100三個反射回波A、B、C如圖所示，則波峰和波谷的分貝差20Lg(a/b)表示分辨力。

（2）NB/T47013-2015中規(guī)定，直探頭遠場分辨力大于等于20dB。

5.測定儀器和斜探頭的遠場分辨力

（1）探頭置于如圖所示位置，對準50mm、44mm、40mm階梯孔，使示波屏上出現(xiàn)三個反射波。

（2）平行移動探頭并調(diào)節(jié)儀器，使50mm、44mm回波等高，如圖所示，其波峰和波谷分別為h1、h2，其分辨力為

NB/T47013-2015中規(guī)定，斜探頭的遠場分辨力大于等于12分貝。

6.測定斜探頭入射點

將探頭置于圖示位置，向R100mm的圓弧發(fā)射超聲波，前后移動探頭，直到R100mm圓弧面反射波達到zui高點，此時與CSK-1A試塊側(cè)面標線中心點“0”相對應的探頭契塊那一點即為探頭入射點。

7.測定斜探頭的K值

根據(jù)探頭折射角的大小，將探頭置于試塊的不同位置進行測量，如圖所示。波形圖同于入射點波形圖。

測量時，探頭應放正使波束中心線與試塊側(cè)面平行，前后移動探頭，找到50mm孔或1.5mm孔的zui高反射波。此時，聲束中心線必然與入射點和圓心之間的連線相重合，即聲束中心線垂直于孔表面。這時，試塊上與入射點相應的角度線所標的值即為該斜探頭的K值。

8.垂直線性的檢驗

將探傷儀的抑制和補償旋鈕置于“0”或“關(guān)”用直探頭放置在圖中A或B位置。并保證探頭與試塊之間有良好的聲耦合。

 調(diào)整衰減器使試塊底波高度為熒光屏的滿刻度，此時必須有30分貝的衰減量。然后每衰減2分貝用百分率讀出反射波高度，直到26分貝，在判斷30分貝時反射波是否存在，將結(jié)果記錄表中。評定垂直線性時，以反射波高度的理想波高為基準，以測試值與基準值的zui大正偏差（+d）及zui大負偏差（-d）之和來判定垂直線性。

D=[|+d|+|-d|]×%

9.盲區(qū)的估計

盲區(qū)是指zui小的探測距離，測試方法是：將直探頭置于探頭位置圖中D、E位置，測量50mm圓孔反射波。從而可以估計出盲區(qū)小于等于5mm或大于等于10mm，或者介于兩者之間。

10.zui大穿透能力估計

將直探頭置于探頭位置圖中F位置，將儀器個靈敏度旋鈕均置于zui大，測試試塊中有機玻璃塊反射波次數(shù)和zui后一次反射波高度。以此來估計zui大穿透力，借以比較探傷儀器及探頭組合性能隨時間變化的情況。

11.探測靈敏度的調(diào)整

 根據(jù)AVG原理，在探頭探傷時可把R100mm圓弧面視為大平底反射，以此來調(diào)整探測靈敏度。直探頭探傷時可把厚度為25/100mm的幾個側(cè)面視為大平底處理，以此來調(diào)整靈敏度。另外，也可以根據(jù)探傷要求，儀測量1.5mm橫通孔反射波來確定靈敏度。

12.測定斜探頭聲束軸線偏離

在CSK-ⅠA試塊上厚25mm的平面上，使聲束指向棱邊，對于K值小于等于1的探頭，聲束經(jīng)底面反射指向上棱角；K值大于1的聲束指向下棱角，前后左右擺動探頭，使所測棱邊端角回波幅度zui高，固定探頭不動，然后用量角器或適當?shù)姆椒y量斜探頭幾何中心聲束軸線與棱邊法線的夾角（例如測量探頭斜面與試塊端面垂直線的夾角），即為聲束軸線偏斜角。應當注意：斜探頭的聲束擴散角較大時，可能影響到zui大回波的探測，以致可能產(chǎn)生較大的測量誤差。